溝槽式場效應(yīng)管
溝槽式場效應(yīng)管TrenchMOSFET是現(xiàn)在比較常用的金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管。因其具有低導(dǎo)通電阻、低柵漏電荷密度的特點(diǎn),所以功率損耗低、開關(guān)速度快。且由于TrenchMOSFET為垂直結(jié)構(gòu)器件,因此可進(jìn)一步提高其溝道密度,減少芯片尺寸,使功率場效應(yīng)管的SMD微型封裝成為現(xiàn)實(shí)。
在手機(jī)電池保護(hù)電路中,常用到兩個(gè)場效應(yīng)管共漏極使用的MOSFET,因?yàn)樵谑謾C(jī)保護(hù)電路中,即要進(jìn)行過充檢測也要進(jìn)行過放檢測。
該類MOSFET內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)如下圖虛線內(nèi)所示:
打開該類MOS的規(guī)格書我們會(huì)看到許多如下參數(shù):
那么如何測試這些參數(shù)呢,下面請(qǐng)看測試手法!
注意:
下文中加粗字體為變量,需根據(jù)MOS規(guī)格書來確定實(shí)際參數(shù)。
1、VSSS耐壓
按下圖連接測試電路,設(shè)置VGS=0V,VSS1從0V以0.1V步增,逐漸增加電壓至IS=1mA,且MOS無損毀,記錄VSS1的電壓。
按下圖連接測試電路,設(shè)置VGS=0V,VSS2從0V以0.1V步增,瞬間增加電壓至IS=1mA,且MOS無損毀,記錄VSS2的電壓。
2、ISSS電流
按下圖連接測試電路,設(shè)置VSS=12V,VGS=0V,記錄下ISSS。
3、VGS(th)開啟電壓
按下圖連接測試電路,設(shè)置VSS=6V,以0.1V同步增加VGS1的電壓,直至ISS=1mA,記錄下此時(shí)VGS1的電壓,同理測試另一FET的VGS2。
4、IGSS柵極漏電流
按下圖連接測試電路,設(shè)置VSS=0V,VGS1=±8V,記錄下IGSS1,同理測試另一FET的IGSS2。
5、RSS(on)內(nèi)阻
按下圖連接測試電路,設(shè)置IS=6A,分別測試VGS等于4.5V、4.0V、3.8V、3.1V、2.5V時(shí),S1與S2兩端的電壓VS1S2,RSS(on)=VS1S2/6A。
6、VFSS二極管導(dǎo)通電壓
按下圖連接測試電路,設(shè)置VGS2=4.5V,VGS1=0V,VS1S2=4.5V,IS1S2=6A,記錄下測試的VFSS1。
同理,設(shè)置VGS1=4.5V,VGS2=0V,VS2S1=4.5V,IS2S1=6A,記錄下測試的VFSS2。
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